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電瓷的顯微結構
一、顯微結構的核心組成相
1.主晶相
莫來石(3Al?O??2SiO?):高溫燒結形成的針狀或棒狀晶體,占比 30-60%。其高彈性模量(~200 GPa)和低熱膨脹系數(~5×10??/℃)賦予材料優異的抗折強度和抗熱震性。
方石英 / 鱗石英:石英相變產物,呈板狀或纖維狀,通過晶界釘扎效應阻礙裂紋擴展,但過量會因相變體積膨脹(~2.8%)導致內應力集中。
2.玻璃相
由長石、黏土等助熔劑在 1250-1450℃形成的非晶態基質,占比 25-40%。其高介電常數(6-8)和低電導率(<10?¹? S/cm)保障絕緣性能,但玻璃相軟化溫度(~700℃)限制了材料的高溫穩定性。
3.氣相(氣孔)
閉口氣孔率通常控制在 3-8%,開口氣孔率 < 1%。氣孔尺寸多為 1-10 μm,呈球形或不規則形狀。氣孔率每增加 1%,抗折強度下降約 3-5%,擊穿場強降低約 2-3 kV/mm。
4.晶界
晶粒間界面可能覆蓋薄層玻璃相或雜質相。晶界電阻率影響整體絕緣性能,裂紋擴展傾向于沿晶界進行,晶界強度決定斷裂韌性。
二、晶體結構特征
1.莫來石晶體
擇優取向生長,長寬比可達 5:1 至 10:1。晶界處存在約 2-5 nm 厚的富硅玻璃膜,降低晶間結合力,但可抑制裂紋擴展。
2.石英晶體
殘留石英多呈棱角狀,粒徑 5-20 μm。其表面常形成無定形 SiO?層(約 10 nm),與玻璃相形成過渡區,改善界面相容性。
三、界面與晶界特征
1.晶界結構
莫來石 - 玻璃相界面存在 Al³?/Si??濃度梯度,形成擴散層(約 50 nm)。界面處可能析出尖晶石(MgAl?O?)或鈦酸鋁(Al?TiO?)等第二相,提高晶界強度。
2.玻璃相分布
玻璃相呈網絡狀包裹晶體,厚度 100-300 nm。在晶界三岔點處形成約 1-3 μm 的玻璃相富集區,此處易成為電樹枝引發位點。
四、缺陷類型與分布
1.點缺陷
氧空位濃度約 10¹?-10¹? cm?³,主要存在于玻璃相中,影響載流子遷移率。
2.位錯網絡
莫來石晶體中位錯密度約 10?-10? cm?²,多為刃位錯,可通過應力誘導攀移吸收能量。
3.微裂紋
主要源于石英相變應力,裂紋長度多為 10-50 μm,裂紋尖端存在塑性變形區(約 1 μm)。
五、工藝調控對顯微結構的影響
1.原料粒度
石英砂粒度從 50 μm 細化至 10 μm 時,莫來石晶粒尺寸從 8 μm 降至 4 μm,氣孔率從 6% 降至 3%。
2.燒成制度
升溫速率:過快導致氣孔滯留,過慢可能引起晶粒異常生長。
保溫時間:延長可促進莫來石發育,但過久導致晶粒粗化。
添加劑效應
添加 1-2% TiO?可促進莫來石形成,細化晶粒;添加 3-5% ZrO?通過應力誘導相變增韌,斷裂韌性從 1.5 MPa?m¹/² 提升至 2.2 MPa?m¹/²;氧化鋁(Al?O?)納米顆粒摻雜可提高晶界純度,抑制離子遷移。
六、典型失效模式與結構響應
電暈老化
玻璃相中的 Na?遷移至晶界,形成導電通道。掃描電鏡顯示晶界處出現直徑 5-20 μm 的放電蝕坑。
熱機械疲勞
循環載荷下,莫來石晶界玻璃相發生黏塑性流動,裂紋沿晶界擴展速率達 10?? m/s。
七、優化方向
1.納米改性
引入納米莫來石前驅體,降低燒結溫度并細化晶粒。
2.梯度結構設計
表層高玻璃相以提高光滑度,內部高晶相保證強度。
電瓷顯微結構是一個多尺度、多相耦合的復雜系統。通過控制原料配比、優化燒成工藝及引入納米改性技術,可實現晶體形態、玻璃相分布及缺陷密度的精準調控,從而滿足特高壓輸電、智能電網等領域對材料綜合性能的嚴苛要求。未來,跨尺度的多相結構優化將成為研究重點。
電瓷的顯微結構